V8000

 
  【生産画面】  

テストレート20MHzの、新しい地平へ。

20MHz帯の高付加価値LSI開発を、フレキシブルに支援します。
お客様の新しいアイディアから、市場までの距離を短縮します。

【特徴】
・20MHzのテストレート
・最大256ピンI/O
・最大8DUT同時測定。さらにSPMU搭載でテスト時間短縮に貢献
・V800、V777、V7100との上位互換性

仕様  
対応ピン数 最大256ピンI/O
同時測定デバイス数 8個(32ピン/DUT)
テスト項目 ファンクション測定、IDDQ測定ユニット(オプション)
DCパラメトリック測定(電圧印加電流測定・電流印加電圧測定)
本体外形寸法・重量 730W×813H×1010D (mm)・200kg
テストヘッド外形寸法・
重量
495.2W×315.7H×720D (mm)・50kg