T8200PRO LF帯・HF帯 [共振周波数検査機] 非接触ICカード、NFCタグIDリード対応

特長

  • この1 台で、 LF 帯・HF 帯の検査(検査項目:共振周波数、減衰量、Q 値、オプション:ID読取)が可能です。
  • 本体に方向性結合器を内蔵し、透過特性または反射特性の検査が可能です。
  • 検査結果、検査波形が自動的にログファイルに保存されます。

※ 標準タイプの他に接点入出力(DIO)装備タイプもあります。
検査用プローブ は別売です。
【本体】 【検査用プローブ(別売)】
PASS/FAIL判定 →

共振周波数 →

減衰量 →

Q値 →




ユーザID →
【検査画面】
検査ログはcsv形式で自動保存されます。

検査原理

検査用プローブと検査対象(非接触ICカード、RFIDタグ)を磁界結合させ、 周波数スイープして透過特性または反射特性を検査します。


アプリケーション

 ●非接触 IC カード、RFID タグの共振周波数検査
 ●RFIDリーダ・ライタアンテナの共振周波数検査
 ●ワイヤレス給電機器の自己共振周波数検査
 ●パワーインダクタ、超音波センサ等受動素子の自己共振周波数検査
  

※ RFID以外の自己共振周波数の検査にもご使用いただけます。

【T8200PROの応用例】
仕様  
測定方式 磁界結合による非接触共振周波数測定
測定内容 透過電圧または反射電圧の振幅
検査項目 共振周波数、減衰量、Q 値、オプション:固有ID(UID, IDm)読み取り
UID 読取対応プロトコル 注 1) ISO14443A(MIFARE Classic, MIFARE Ultralight): UID
ISO14443B: PUPI
FeliCa: IDm
ISO15693(Tag-it HF-I Plus/Pro, I・CODE SLIX2): UID
測定ポイント数 100~2048 ポイント
検査時間 注 2) (測定ポイント数=1000 の場合) ID読取検査なし:0.5 sec(typ)
ID読取検査あり:1 sec(typ)
検査結果・検査波形保存機能
検査ログファイル(csv):
検査時刻, ID, PASS/FAIL, 共振周波数, 減衰量, Q値
波形データ:csv, jpg形式
周波数設定範囲
10 kHz ~ 1200 MHz
印加パワー(@50Ω負荷)
-30~+15 dBm
DIO 回路形式 絶縁(フォトカプラ)入出力
DIO 端子絶対最大定格 入力端子:入力順電流 50mA 出力端子:順電圧 80V、逆電圧 7V、順電流 50mA
システム要件 PC(OS): Windows7, Windows 8.1, Windows10
USB2.0以上
電源 USB バスパワー(消費電流 500mA 以下)
付属物 本体、USB ケーブル、同軸ケーブル(500mm 2 本)、 Windows インストール CD
寸法、重量 125(W)×165(D)×40(H) mm 突起含まず 0.8kg

注1)本器はRFIDリーダ・ライタではありません。検査対象の通信性能を評価することを目的とした機器ではありません。検査対象によっては、UIDが読み取れない場合があります。
注2)検査時間は、ご使用のPCや本器の検査設定内容、検査対象の特性等に依存します。
※デザイン・仕様は、予告なしに変更される場合があります。

関連情報

  1. 【T8200PRO】透過による共振特性検査及び反射による共振特性検査の設定方法
  2. 【T8200PRO】透過による共振特性と反射による共振特性の測定結果の比較
  3. 【T8200PRO】通信機能(オプション)設定方法
  4. 【T8200PRO】設定ファイルダウンロード