接触・非接触COT検査発行装置

  上:【モジュール位置ずれ外観検査】
下:【パンチ穴検査】
【モジュール外観検査】
 
【COT接触検査発行】 【COT非接触検査発行】  

2次発行前の、品質への安心を強力サポート。

接触型・非接触型ICカードの検査・0次・1次発行を行い、
2次発行前のファイナルテストを行う装置です。

コンビ型・デュアル型のICカードに対応しています。
反り厚み・通信・接触部・非接触部の検査・印字・発行を行い、さらに強電界印加テスト・Q値測定を追加する事もできます。


接触・非接触 同時検査・発行を20chの実績で、大量生産を強力にサポートします。
IDデータはホストPCで管理し、いつも「何を生産しているのか分かる」安心感をご提供します。
量産現場で求められる安定・長時間稼動にも、自信があります。

仕様  
基本機能 0次発行・1次発行
反り厚み検査
ID読み取り
通信距離検査(ポーリング検査)
接触部検査発行(VIC8000参照)
非接触部検査発行
共振周波数、及びQ値測定
レーザーマーキング
参考外形寸法 本体:6000W×1800H×1000D (mm)
(接触・非接触20連発行装置、フルスペック型)
要求設備 三相200V30A
エア0.5Mpa 70L/min