T9000

周波数800MHz～1000MHzの間でパワーをステップさせながらUHFタグの通信性能をプロットし評価できます。
指定した測定ポイントのみ検査を行い良否判定することも可能です。

T8200PRO

非接触ICカード、RFIDタグ、NFC製品、R/Wアンテナの共振周波数特性検査を行い、オプションの通信機能でUID読取検査もできる検査装置です。

T8300MKⅡ

ISOに規定された、磁界強度、変調度、周波数、変調タイミングなど、リーダライタからの信号を自在に変化させICカードが応答できる範囲を評価できます。

T8200

ICカードアンテナやインレイの共振周波数をを最大32CHで同時測定する量産向けの検査装置です。

T8000

接触ICカードのDC測定を自動測定し、コマンドファイルによりデータエンコードを自動処理する装置です。

インレイシート検査機
（プレラミテスター）

プレラミシートに面付けされたインレイの通信検査を実現する装置です。

　　　　　

接触・非接触ICカード検査発行装置

接触型・非接触型ICカードの検査・
0次・1次発行を行い、2次発行前のファイナルテストを行う検査発行装置です。コンビ型・デュアル型のICカードに対応しています。

　　　　　

接触・非接触COT検査発行装置

接触・非接触ICカード用モジュールをCOT（Chip On Tape）の段階で検査を行う装置です。0次・1次発行も同時行うことが可能です。

　　　　　

ICカード用モジュール剥がれ検査装置

ICカードに長辺方向、短辺方向に応力をかけ、接触型ICカードに搭載されているICカードモジュールの接着不良を検出する検査装置です。

曲げストレス耐久試験機

ISO/IEC10373-1、又はJISX6305-1の規格に準拠したカードの曲げ特性に関するストレス耐久試験機

ねじれストレス耐久試験機

ISO/IEC10373-1、又はJISX6305-1の規格に準拠したカードのねじれ特性に関するストレス耐久試験機

モジュール部曲げストレス耐久試験機

ISO/IEC 24789-2の規格に準拠したICカードのモジュール部に特化した曲げ特性に関するストレス耐久試験機

３点ローラ耐久試験機

ISO/IEC10373-3、又はJISX6305-3の規格に準拠したＩＣカードのモジュール部の加圧特性に関するストレス耐久試験機

EMP1100C

カードの側面をなぞるだけで500枚までカウントができ累計カウントも可能です。
★ 非接触充電器付き

CM-1

カラーコアカードや金属カードにも対応した新しいハンドヘルドカードカウンターです。

　　　　　

V2048

・最大2048ピン（64ピン×32枚まで
　増設可能）
・標準構成でテストヘッドを装備
・ファンクション機能やDPSを
　オプションで用意