製品情報

T8200Shannonの特長

プレラミインレイ、アンテナシートの品質を全数検査でサポート
量産を意識した、ICカード・タグの共振周波数とQ値を測定する検査装置です。
同時測定数は2~32CH、一回の測定に必要な時間は、わずか0.15秒。
量産現場で求められる、高いスループットとコストパフォーマンスを実現し、
プレラミインレイやRFIDアンテナなどの面付けシート製品やロール製品の全数検査に最適です。
さらに品質の安定したICカード・タグの出荷をサポートします。
検査ヘッドは測定対象のコイルデザインに合わせて特注製作のリクエストにも対応します。
コンパクト設計で、チップ実装機など生産装置への組込みも可能です。
生産ラインに組み込む際には、1CHから32CHのPASS/FAIL判定をI/Oにて出力できます。
同時測定数は2~32CH、一回の測定に必要な時間は、わずか0.15秒。
量産現場で求められる、高いスループットとコストパフォーマンスを実現し、
プレラミインレイやRFIDアンテナなどの面付けシート製品やロール製品の全数検査に最適です。
さらに品質の安定したICカード・タグの出荷をサポートします。
検査ヘッドは測定対象のコイルデザインに合わせて特注製作のリクエストにも対応します。
コンパクト設計で、チップ実装機など生産装置への組込みも可能です。
生産ラインに組み込む際には、1CHから32CHのPASS/FAIL判定をI/Oにて出力できます。

検査画面

ログ画面
仕様
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測定内容
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透過電圧または反射電圧の振幅
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検査項目
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検査項目 共振周波数、減衰量、Q値、減衰量リミットテスト
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検査時間 注1)
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0.15sec (typ)
(測定ポイント数=500,平均化数4回の場合) |
検査結果保存機能 注2)
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検査結果保存機能 注2) 検査ログファイル(csv):
・生産ロット単位で集計 ロット開始、終了時間、PASS/FAIL, 共振周波数, 減衰量, Q値 |
周波数設定範囲
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1MHz~100MHz
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RFパワー (@50Ω負荷)
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-30~+15 dBm
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動作モード
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PC連動モード
・マニュアル(手動操作) ・ディジタルIO (DIO) スタンドアロンモード ・ディジタルIO (DIO) |
DIO回路形式
Typical特性 |
絶縁(フォトカプラ)入出力
出力端子:VCC=12~24V, Iout < 20 mA, 残留電圧 < 1 V |
DIO端子絶対最大定格
(オプション: DIO) |
入力端子:入力順電流 50mA、逆電圧6V
出力端子:順電圧40V、逆電圧6V、sink電流80mA、許容損失100mW/ch |
システム要件
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OS:Windows 10,11
USB2.0以上 |
電源
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DC5V±5% (消費電流1A以下)
電源コネクタ形状: DC Power Jack (2.0mm)pin |
付属物
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同軸ケーブル(1m×4本)、WindowsインストールCD、電源ケーブル(入力AC100-240V 50/60Hz 0.3A 出力DC5V 2.0A)
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寸法(突起物除く)、質量
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1スロット筐体:170(W) × 165(D) × 39(H)mm、約0.6㎏
8スロット筐体:360(W) × 205(D) × 180(H)mm、約3.5㎏ 本体:約0.3㎏ |
動作保証環境
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5℃~35℃(校正実行時温度から±3℃以内)
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ウォームアップタイム
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30分
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注1)検査時間は、ご使用のPCや本器の検査設定内容、検査対象の特性等に依存します。
注2)検査ログはPC連動モード時のみ保存されます。
※仕様・外観は予告なしに変更される場合があります。
注2)検査ログはPC連動モード時のみ保存されます。
※仕様・外観は予告なしに変更される場合があります。