製品情報
接触ICカード・セキュアエレメントデバイスのエンコードをサポート
ISO/IEC7816準拠のJAVA,EMV,MULTOSなど各種のハイセキュリティな接触ICカード発行を行う装置です。
さらに、オプションで非接触ICカード用のR/Wを搭載し非接触ICカードの発行も行えます。
ISO/IEC7816準拠のJAVA,EMV,MULTOSなど各種のハイセキュリティな接触ICカード発行を行う装置です。
さらに、オプションで非接触ICカード用のR/Wを搭載し非接触ICカードの発行も行えます。

特長
1.接触ICカードの発行処理を高速で実現
生産ラインで発行時間を要する容量な大きなエンコードも高速処理で高いスループットを実現します。
弊社従来製品[T8000 IC CARD TESTERⅢ]との比較で最大1.6倍高速化!
生産ラインで発行時間を要する容量な大きなエンコードも高速処理で高いスループットを実現します。
弊社従来製品[T8000 IC CARD TESTERⅢ]との比較で最大1.6倍高速化!

2.従来の一括DL方式に加え、1Step方式も可能
接触カード発行方式は従来の一括DL方式に加え、1Step方式での発行もできます。
通信プロコトルはTCP/IPです。
また、発行システムの基本構成は踏襲しているので、T8000(IC CARD TESTERⅢ)で発行している現行の発行スクリプトはそのまま運用可能です。
接触カード発行方式は従来の一括DL方式に加え、1Step方式での発行もできます。
通信プロコトルはTCP/IPです。
また、発行システムの基本構成は踏襲しているので、T8000(IC CARD TESTERⅢ)で発行している現行の発行スクリプトはそのまま運用可能です。

3.多彩なオプション
様々なオプションをご用意しております。
様々なオプションをご用意しております。
1.メモリ増設
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内臓メモリ512MB又は1GBの増設ができます
標準内臓メモリ74MB(10MB+64MB) |
2.非接触発行
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非接触ICカードR/Wを接続して、非接触ICカードの発行も行えます
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3.電気特性検査
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オプションのPMUを追加することで接触ICカードのDC特性検査、及びAtoR検査が可能です
・断線確認(ピンコンテスト)各端子とGND端子間の接続特性(オープン/ショート) ・断線確認(ピンコンテスト)各端子とVCC端子間の接続特性(オープン/ショート) ・入力リーク検査(VF=5.5V)各端子とGND端子間の回路の機能検査 ・入力リーク検査(VF=0.5V)各端子とVCC端子間の回路の機能検査 ・消費電流検査 GND端子とVCC端子間に流れる消費電流測定 ・AtoR検査 AtoR期待値を設定してICカードに記憶されているATRコードの照合 ※既存のT8000(IC CARD TESTER Ⅲ)と同等の検査項目になります |
4.カード治具
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![]() ・プレス式カードコンタクト治具 ・プローブホルダー
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4.I2C、SPIに対応可能
I2C、SPIで通信するセキュアエレメントデバイスにも対応が可能です。
I2C、SPIで通信するセキュアエレメントデバイスにも対応が可能です。
生産装置への取り組み
T8500シリーズでは生産装置に応じて接触発行基板を追加しCH数を選択していただけます。
PCと接触発行基板はハブを経由してLANで接続し、SW電源から電源供給します。
※既存装置へのリプレースも可能です。
PCと接触発行基板はハブを経由してLANで接続し、SW電源から電源供給します。
※既存装置へのリプレースも可能です。

※非接触R/Wはオプションになります
仕様
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入力I/F
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LAN接続(PCと1対1で接続)
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出力I/F
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接触/I2C/SPI(ソフトウェアに関しては別途対応が必要です)
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出力CLK
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3.5MHz~50MHz(最小分解能10Hz)
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BPS
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~5400K
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内臓メモリ
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標準内臓メモリ74MB(10MB+64MB)オプション最大1GB
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スクリプトステップ数
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約500,000
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VCC電圧
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0~±10V
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寸法
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190(W) × 297.5(D) × 53.5(H)mm(単体機)
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PC
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Windows10
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電源
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AC100V 2口
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※デザイン・仕様は、予告なしに変更される場合があります。